Huace650T高低溫冷熱臺測試功能及配套設(shè)備說明

一、核心測試功能

Huace650T高低溫冷熱臺作為高精度溫控實(shí)驗(yàn)平臺，主要面向材料、半導(dǎo)體、光學(xué)等領(lǐng)域的溫度敏感性測試，核心功能包括：

寬范圍溫度控制

溫度調(diào)節(jié)范圍覆蓋 -185℃（液氮低溫）至600℃（高溫），支持快速升降溫（典型速率0.1~10℃/min，部分模式可達(dá)20℃/min），滿足惡劣溫度環(huán)境下的樣品性能評估。

控溫精度高達(dá) ±0.1℃（常溫區(qū)）及 ±0.5℃（惡劣溫區(qū)），溫度均勻性優(yōu)于±1℃（樣品區(qū)域），確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)的穩(wěn)定性和重復(fù)性。

多場景樣品測試適配

兼容薄片、薄膜、粉末、器件（如芯片、傳感器） 等多種樣品形態(tài)，樣品臺尺寸可選（常規(guī)Φ10~50mm），支持真空（≤10^-4Pa）或惰性氣體氛圍（如N?、Ar），避免樣品氧化或水汽干擾。

配備光學(xué)窗口（石英/藍(lán)寶石材質(zhì)），可透過可見光、紫外光或紅外光，滿足原位顯微觀察、光譜分析等需求。

動(dòng)態(tài)力學(xué)與物理性能測試

可集成拉伸、壓縮、彎曲等力學(xué)夾具，實(shí)現(xiàn)材料在高低溫下的應(yīng)力-應(yīng)變曲線、彈性模量、斷裂強(qiáng)度等力學(xué)性能測試。

支持介電常數(shù)、電阻率、熱膨脹系數(shù) 等物理參數(shù)的原位測量，適用于半導(dǎo)體材料、復(fù)合材料的溫度響應(yīng)特性研究。

二、可配合使用的設(shè)備

Huace650T通過標(biāo)準(zhǔn)化接口（如機(jī)械固定孔位、電氣信號接口、光學(xué)通路）與多種分析設(shè)備聯(lián)用，擴(kuò)展測試維度：

顯微成像設(shè)備

光學(xué)顯微鏡/金相顯微鏡：觀察樣品在溫度變化中的微觀結(jié)構(gòu)演變（如相變、裂紋擴(kuò)展）。

掃描電子顯微鏡（SEM）/原子力顯微鏡（AFM）：結(jié)合專用轉(zhuǎn)接裝置，實(shí)現(xiàn)納米級形貌與溫度場的關(guān)聯(lián)分析（需定制真空/高低溫樣品臺接口）。

光譜分析設(shè)備

紫外-可見-近紅外分光光度計(jì)（UV-Vis-NIR）：測試材料的 透過率、吸收率、熒光光譜 隨溫度的變化，用于光學(xué)材料（如量子點(diǎn)、光纖）的性能評估。

拉曼光譜儀/傅里葉變換紅外光譜儀（FTIR）：分析分子振動(dòng)模式或官能團(tuán)的溫度依賴性，揭示材料的化學(xué)結(jié)構(gòu)變化。

電學(xué)與熱學(xué)測試設(shè)備

精密LCR表/源表：測量樣品的 電阻、電容、介損 等電學(xué)參數(shù)，適用于半導(dǎo)體器件（如二極管、晶體管）的高低溫特性測試。

熱導(dǎo)儀/差示掃描量熱儀（DSC）：聯(lián)用后可同步獲取熱導(dǎo)率、比熱容及相變潛熱等熱學(xué)數(shù)據(jù)，深入分析材料的熱穩(wěn)定性。

環(huán)境控制與輔助設(shè)備

真空系統(tǒng)/氣氛控制系統(tǒng)：提供高真空或特定氣體氛圍，適配對環(huán)境敏感的樣品測試。

數(shù)據(jù)采集與控制系統(tǒng)：通過軟件（如LabVIEW、MATLAB）實(shí)現(xiàn)溫度、力學(xué)參數(shù)、外部設(shè)備數(shù)據(jù)的同步采集與自動(dòng)化分析。

三、應(yīng)用領(lǐng)域

l 材料科學(xué)：金屬合金的相變研究、高分子材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度（Tg）測試。

l 半導(dǎo)體與電子：芯片封裝材料的熱可靠性評估、柔性電子器件的高低溫耐久性測試。

l 新能源：電池電極材料的溫度依賴性電化學(xué)反應(yīng)研究、光伏材料的光吸收效率溫度特性。

l 通過功能模塊化設(shè)計(jì)和設(shè)備聯(lián)用能力，Huace650T成為高低溫環(huán)境下多物理場耦合測試的核心平臺，滿足科研機(jī)構(gòu)、企業(yè)研發(fā)中的高精度實(shí)驗(yàn)需求。